Pattern classification. 2nd ed

資料種別:
図書
責任表示:
Richard O. Duda, Peter E. Hart, David G. Stork
言語:
英語
出版情報:
New York ; Chichester : Wiley, c2001
形態:
xx, 654 p. : ill. (some col.) ; 27 cm
著者名:
書誌ID:
BA4963402X
ISBN:
9780471056690 [0471056693]  CiNii Books  Webcat Plus  Google Books
eリソース
Loading
子書誌情報
Loading
所蔵情報
Loading availability information

類似資料:

1
 
2
 
3
 
4
 
5
 
6
 
7
 
8
 
9
 
10
 
11
 
12
 

Duda, Richard O., Hart, Peter E.

Wiley

Bow, Sing-Tze, 1924-

M. Dekker

Grenander, Ulf, 1923-

Springer-Verlag

8 電子ブック Biometrics for dummies

Gregory, Peter, Simon, Michael A.

Wiley

3 図書 Pattern analysis

Grenander, Ulf, 1923-

Springer-Verlag

Chen, C. H. (Chi-hau), 1937-, Pau, L. F. (Lewes F.), Wang, Patrick S.-P.

World Scientific

Stuper, Andrew J., 1950-, Brugger, Bill, Jurs, Peter C.

Wiley

Grenander, Ulf, 1923-

Clarendon Press

Fu, King Sun, 1930-

Academic Press

Chi, Zheru, Yan, Hong, Phạm, Tuân

World Scientific Pub.

Leve, G. de

Mathematisch Centrum